Mikroskop do inspekcji przemysłowej
-
BS-4020A Trinokularny przemysłowy mikroskop inspekcyjny do płytek
Przemysłowy mikroskop inspekcyjny BS-4020A został specjalnie zaprojektowany do kontroli płytek różnej wielkości i dużych płytek PCB. Ten mikroskop może zapewnić niezawodne, wygodne i precyzyjne obserwacje. Dzięki doskonale wykonanej strukturze, układowi optycznemu o wysokiej rozdzielczości i ergonomicznemu systemowi operacyjnemu, BS-4020A realizuje profesjonalną analizę i spełnia różne potrzeby badań i kontroli płytek, FPD, pakietów obwodów, PCB, materiałoznawstwa, odlewania precyzyjnego, metaloceramiki, precyzyjnych form, półprzewodniki i elektronika itp.
-
BS-4020B Trójokularowy przemysłowy mikroskop inspekcyjny do płytek
Przemysłowy mikroskop inspekcyjny BS-4020B został specjalnie zaprojektowany do kontroli płytek różnej wielkości i dużych płytek PCB. Ten mikroskop może zapewnić niezawodne, wygodne i precyzyjne obserwacje. Dzięki doskonale wykonanej strukturze, układowi optycznemu o wysokiej rozdzielczości i ergonomicznemu systemowi operacyjnemu, BS-4020B realizuje profesjonalną analizę i spełnia różne potrzeby badań i kontroli płytek, FPD, pakietów obwodów, PCB, materiałoznawstwa, odlewania precyzyjnego, metaloceramiki, precyzyjnych form, półprzewodniki i elektronika itp.
-
Trójokularowy przemysłowy mikroskop inspekcyjny BS-4000B
Mikroskopy serii BS-4000 zostały specjalnie zaprojektowane do precyzyjnych inspekcji przemysłowych. Przyjmują nieskończony układ optyczny i obiektyw o dużej mocy o dużej odległości roboczej. Zapewniają wyjątkową wydajność optyczną i są dostępne dla branży IT, wielkoskalowych układów scalonych, obserwacji i testowania chipów.
-
Trójokularowy przemysłowy mikroskop inspekcyjny BS-4000A
Mikroskopy serii BS-4000 zostały specjalnie zaprojektowane do precyzyjnych inspekcji przemysłowych. Przyjmują nieskończony układ optyczny i obiektyw o dużej mocy o dużej odległości roboczej. Zapewniają wyjątkową wydajność optyczną i są dostępne dla branży IT, wielkoskalowych układów scalonych, obserwacji i testowania chipów.